車載用ハーネス高速オープン・ショート試験装置

（40ｃh直流抵抗測定システム）QPT027　

本装置は、車載用ハーネス、コネクタを40Ch分スキャンニングし、

直流抵抗を測定(実測)後、任意の上下限値で良否判定致します。

予め設定したプログラムで上下限判定し、実測データーも本体にメモリ可能です。

通常のオープン・ショート測定器と違い、抵抗値を実測致しますので、基板のサーキット毎のウイーク・ポイントや部品不良の傾向を解析可能です。

車載用基板の他、様々な業種のお客様の製品に搭載されている基板も、製品に実装されたままの状態での評価が可能です。

（大手自動車メーカー様ご採用品）

標準付属品：電源ケーブル、接続ケーブル、アプリケーション・ソフトウエア

高電圧高温バイアス評価装置　QPM792

トランジスタ、FET等の増幅素子のエミッタ/ドレイン電流を400素子(ｃｈ)スキャンニングし自動測定をする装置です。

予め設定したプログラムで測定デバイスへの電源の印加、自動測定、判定、測定データの保存まで自動で行います。

データはCSVファイルとしてハードディスクに保存されますので、測定後のデータの管理も容易です。

測定方式：抵抗両端電圧検出方式(1ｋΩ、電流換算）

測定範囲：0-100ｍA

検出部(スキャナ）：DC1.5KV、5Amax(フローティング動作）

切換器：400ｃｈ（拡張機能あり）　Max1,600ｃｈ

印加電圧：①DC0-±1.5KV/0-200ｍA（ゲート用）　

　　　　　②0-±80V/0-4.5A(ドレイン用）

制御：電源部、スキャナ部、測定系（フルリモート制御）

高温バイアス評価装置　QPM776

バイポーラ・トランジスタ、MOS-FETのリーク電流を200素子(ｃｈ)分スキャンニングし自動測定をする装置です。

予め設定したプログラムで測定デバイスへの電源の印加、自動測定、判定、測定データの保存まで自動で行います。

データはCSVファイルとしてハードディスクに保存されますので、測定後のデータの管理も容易です。

測定方式：抵抗両端電圧検出方式(1ｋΩ、電流換算）

測定範囲：0-100ｍA

検出部(スキャナ)：DC750V、1Amax(フローティング動作）

切替器：200ｃｈ（拡張機能あり）　Max1,000ｃｈ

印加電圧：DC0-500V、0-100ｍA

制御：電源部、スキャナ部、測定系（フルリモート制御）  

デバイス暗電流測定装置 QPM821シリーズ

各種電子デバイスの微小電流（暗電流）を100素子(ｃｈ)分スキャンニングし自動測定をする装置です。

独自の測定・電源回路により、切替器として限界値に近い電流分解能を有しております。

測定方式：抵抗両端電圧検出方式(電流換算）

測定分解能：最小分解能　0.1ｎA　(電流換算後）

測定範囲：11.0000μA(レンジ固定）

測定確度：±0.3ｎA　（検出抵抗の許容誤差含まず）

印加電圧：DC0-10V/0-160ｍA　(直流重畳用電圧測定機能あり）

切替器：100ｃｈ（拡張機能あり）　Max1,000ｃｈ

制御：電源部、スキャナ部、測定系（フルリモート制御）

*仕様/精度/チャンネル規模はお客様のご要求により変更可能です。

抵抗温度特性計測装置

各種デバイスの抵抗-温度特性を測定する装置です。

デバイスを恒温層内の冶具にセットし、-40～200℃の設定温度ステップで制御し、温度が安定したところで抵抗値を計ります。

ソースおよび測定部は、高性能電源装置とデジタルマルチメータを組み合わせる事で高精度な多チャンネル自動測定が可能です。

チャンネル規模、仕様、精度はお客様のご希望により、ソース及び測定器の変更が可能です。

PC環境：WINDOWS (XP、7、８)、ナショナルインスツルメンツ LabVIEW

ソース ：ケスレー・インスツルメンツ社製　電源装置

測定器：ケスレー・インスツルメンツ社製　デジタルマルチメータ

恒温層：エスペック製

ポリマーPTC素子トリップ時間測定装置

・特徴：ポリマーPTC素子に一定の電流を印可し、トリップする

                までの 時間を計測

・概要：最大１０個のワークを恒温槽にセットし-40℃～180℃間

                の任意の温度を設定。

　　　　温度が安定した所で、印可電流とワーク両端電圧を1ms

                間隔で同時プリングを開始。

                電流を印可後、電流値が小さくなりトリップ判断後、

　　　　サンプリングを終了し、サンプリングデータからトリップ

                時間を計測する。

・環境：Windows、LabVIEW7.1、PCI-GPIB、PCI-6143、

　　　　PO-64L(PCI)H

・測定器：2700+7700、R6144、HP6060B、HP6653、

　　　　　HP6050A+60504B x3、HP6032A x2

レーザースクライバー

・特徴：フィルム基板上のチップ部品の、画像位置計測

            及び、CO2レーザーによりスクライブ(個片)化

            する装置です。

・概要：画像位置計測によりXYθのテーブル位置合わせを

            行いスクライブする。

　　　　画像位置計測ユニットは、様々なアプリケーション

           に応用可能です。

 ・環境：Windows、LabVIEW7.1